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达高特 CMXDL+超声波测厚仪是一款A/B扫描多功能超声波测厚仪，性能全面。集合了脉冲-回波模式、脉冲-回波涂层模式、脉冲-回波温度补偿模式、回波-回波模式、回波-回波验证模式、测量涂层模式。
产品特点：
100MHz FPGA时序电路设计
A/B扫描
手动调节增益和自动增益控制（AGC），范围：110dB
双晶探头和单晶探头（延迟块、接触式、笔形）
USB Type-C数据接口
内置4GB SD存储卡
达高特 CMXDL+超声波测厚仪产品参数：
| 型号 | CMXDL+ |
| 测量范围 | 0.63-30.48mm(钢) |
| 探头频率 | 5MHz |
| 探头型号 | T-102-2900高阻抗双晶探头 |
| 探头晶片直径 | Φ6.35mm |
| 探头线 | 1.2m |
| 脉冲 | 可调方波脉冲发生器 |
| 脉冲重复频率 | 250Hz |
| 分辨率 | 0.01mm和0.001mm |
| 声速范围 | 309.88~18542m/s |
| 单位 | 公制或英制 |
| 校准 | 一点和两点校准方式 |
| 探头频率范围 | 1-20MHz |
| 键盘 | 12个触摸键 |
| 外形尺寸 | 63.5x165x31.5mm |
| 电源 | 3节5号碱性电池 |
| 存储 | 内置4GB SD卡 |
可选适配探头：
咨询热线:
021-56787219
联系人：王生
手 机：189-3994-5529
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