达高特 CMXDL+彩屏超声波测厚仪是一款A/B扫描多功能超声波测厚仪，性能全面。集合了脉冲-回波模式、脉冲-回波涂层模式、脉冲-回波温度补偿模式、回波-回波模式、回波-回波验证模式、测量涂层模式。

 

产品特点：

100MHz FPGA时序电路设计

A/B扫描

手动调节增益和自动增益控制（AGC），范围：110dB

双晶探头和单晶探头（延迟块、接触式、笔形）

USB Type-C数据接口

内置4GB SD存储卡

多种测量模式：

脉冲-回波（P-E）模式：测量材料厚度

脉冲-回波涂层（PECT）模式：同时测量材料和涂层厚度

脉冲-回波温度补偿（PETP）模式：测量材料厚度

脉冲-回波（E-E）模式：穿过涂层测量材料厚度

脉冲-回波验证（E-EV）模式：穿过涂层测量材料厚度

测量涂层（CT）模式：只测量涂层厚度

 

达高特 CMXDL+彩屏超声波测厚仪产品参数：

型号	CMXDL+彩屏
测量范围	0.63-30.48mm(钢)
探头频率	5MHz
探头型号	T-102-2900高阻抗双晶探头
探头晶片直径	Φ6.35mm
探头线	1.2m
脉冲	可调方波脉冲发生器
脉冲重复频率	250Hz
分辨率	0.01mm和0.001mm
声速范围	309.88~18542m/s
单位	公制或英制
校准	一点和两点校准方式
探头频率范围	1-20MHz
键盘	12个触摸键
外形尺寸	63.5x165x31.5mm
电源	3节5号碱性电池
存储	内置4GB SD卡

 

可选适配探头：