达高特 PVX超声波测厚仪是一款A/B扫描高精密超声波测厚仪。采用FPGA技术的100Hz数字信号处理器平台设计,可选延迟块、接触式和笔式单晶探头。
产品特点:
采用FPGA技术的100Hz数字信号处理器平台设计
100v、150v、200v可调脉冲发生器
最大250Hz脉冲重复频率
变脉冲宽度(尖、窄、宽)
时间相关增益(TDG),具有可调的起点和斜率
可调阻尼(30、50、75、300、600、1500Ω)
探头类型:延迟块、接触式和笔式单晶探头
内置4GB SD存储卡
USB Type-C数据接口
达高特 PVX超声波测厚仪产品参数:
型号 | PVX |
测量范围 | 1.27-25.4mm(钢) |
探头频率 | 15MHz |
探头型号 | T-402-5507标准延迟块探头 |
探头晶片直径 | Φ6.35mm |
分辨率 | 0.01mm/0.001mm |
声速范围 | 309.88-18542m/s |
单位 | 公制或英制 |
校准 | 一点和两点校准方式。或选择被测材料类型 |
脉冲 | 可调方波脉冲发生器(尖、窄、宽) |
接收 | 根据测量模式在110dB范围内采用手动或自动 |
键盘 | 12个触摸键 |
外形尺寸 | 165*63.5*31.5mm |
容量 | 内置4GB SD卡 |
数据输出 | 通过USB Type-C连接的计算机 |
可选适配探头:
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